红外干涉仪 适用于高精度红外成像应用的测量方法
- 2023-06-30-
光学成像的应用广泛,种类繁多。在系统的设计波长下进行测试对开发、对准和鉴定至关重要。
用于航空航天和国防的夜视、红外和热成像系统、光刻子系统、遥感望远镜和外来材料鉴定对波长有不同的要求,而它们都受益于在红外干涉仪系统在设计波长下的测试。
ZYGO 长期以来被公认为是世界上干涉测试仪器的先行者,已经设计和制造了许多特殊装备的干涉仪系统,包括NIR、SWIR、MWIR 和 LWIR 波长的系统。 ZYGO 还设计和制造了一系列用于这些波长的参考光学器件(透射球面镜和透射平面镜)。
主要特点
· 工作波长范围广:
· NIR: 1.053 µm & 1.064 µm
· SWIR: 1.55 µm
· MWIR: 3.39 µm
· LWIR 10.6 µm
· 基于工作波长 的QFAS 十字快速对准视图简化了红外测试系统和组件的设置。
· ZYGO 独有的 QPSI™ 采集技术,可在振动较常见的环境中实现可靠的测量,NIR、SWIR 和 MWIR 型号均配有这种技术。
· 可选的 DynaPhase™ 瞬时数据采集技术,对振动不敏感,可在恶劣的环境中进行测量。
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